融合了計量學和斷層X射線攝影，測量技術的新革命！
蔡司 METROTOM斷層掃描測量機——測量技術的新革命
蔡司 Metrotomo融合了計量學和斷層X射線攝影法,開創了不可預期的可能性。在此之前只能檢測或根本不能進行質量保證的場合,現在可以進行高精度和無損測量。
斷層掃描分析如同在工件內部測量:所有采集的數據可用于質量保證的范圍和進行評估。無損檢測技術,例如：裝配檢查、損傷和氣孔分析、材料檢驗或損壞檢查,如同測量評估、逆向工程應用或幾何比較一樣。
在此之前或許不能檢測，或只能通過耗費時間和成本的接口進行檢測的場合，現在斷層掃描分析可以快速明確地檢測誤差。
重要特征
深思熟慮的設計
● 三維計算機斷層掃描分析帶有微聚焦X射線管和探測器
● 用于裝夾工件的轉臺和蔡司的運動單元
安全技術
● 全防護測量間
● 滿足了根據DN54113標準的用于結構類型許可全封閉儀器的防護射線條例
● 根據人機工程學優化的設計(專用上料位置)
機器技術
來自卡爾蔡司的精密運動系統；
● 自加工的精密機械組件 ● 導軌誤差補償(CAA計算機輔助誤差修正技術)
氣浮軸承轉臺：
● 蔡司原裝轉臺,配有直接驅動 ● 自產氣浮軸承
● 最大載荷(中心):500N ● 軸向誤差fa=0.1μm,徑向誤差fa=0.2μm
使用斷層成像技術優化產品內部工藝
● 裝配檢查 ● 模具修復——幾何量對比 ● 材料分析
● 幾何量測量 ● 無損瑕疵檢測 ● 逆向工程
● 孔隙率分析 ● 損害分析
針對設備的驗收測試階段,卡爾蔡司使用基于VDI/VDE 2630開發的標準器具,同時可提供測量不確定性的相應對比測試及測量機的測量系統分析。
儀器參數/儀器型號 | METROTOM 800 | METROTOM 1500 | |
測量范圍（mm） | 直徑150*170 | 直徑170*150 | 直徑350*300 |
分辨率（μm） | 3.5-6 | ||
射線管類型 | 密閉式微焦點射線管 | 開放式X射線技術 | |
射線管，管功率 | 130Kv，39W | 225Kv，500W | |
探測器分辨率 | 1536*1920 | 1024*1024 | 2048*2048 |
放射源-探測器距離（mm） | 800 | 800 | 1500 |
軟件 | CALYPSO | ||
殼體材料 | 聚合物混凝土 | 鉛 | |
用途 | 測量實驗室 | ||
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